blade pin大电流弹片微针模组为5G手机屏幕测试保驾护航

2019-11-28 09:24:47 凯智通

随着5G的到来,许多地区也已经开始商用5G网络了,2020年将是5G加速发展的一年,5G智能手机的出货量将会大增,消费者的换机意愿会更强烈。在5G智能手机的市场需求不断增长之下,中国知名手机品牌华为、小米、oppo、vivo等会更加注重对手机的品质把控。在出厂前,手机屏幕测试是必要的,屏幕彩色显像管与其周围的电路有关,包括屏幕亮度、图像对比度、清晰度、白平衡误差等。由于手机内部零件空间密集,测试时往往会面临间距过小而测试探针较大的问题。本文将主要探讨手机屏幕测试时传统的pogo pin探针模组与新型的blade pin大电流弹片微针模组的差别。

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普通供应商提供的pogo pin探针模组在小pitch领域里面寿命和稳定性都表现较差,或者无法直接使用,这就会影响测试时的数值和测试效率。即使把pogo pin的尺寸减小来适应测试,也极易出现卡pin、断针的现象,更不用说因为尺寸改变的原因而出现的可过电流变小、测试不稳定性、阻抗性变高等问题了。

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凯智通研发出的blade pin大电流弹片微针模组,在小pitch领域的测试中有很好地解决方案。一体成型的弹片式设计,轻薄、扁平,在小pitch测试中应用于0.15mm-0.4mm之间,测试的间距值保持在一个弹性范围内,性能稳定可靠。

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这款弹片微针模组是通过激光设备,采用特殊工艺制作的,接触形状和整体高度都能按照客户要求进行定制化制作。在测试时,电流传导于同一材料体内,电阻恒定,几乎不会出现电流衰减、电性不稳定的状况,额定电流可达50A,具有更好地连接功能。
此外,blade pin大电流弹片微针模组还有着以下几点特性:1.整体精度高、兼容性好、寿命高;2.阻抗力小、过流能力强;3.加工难度低、交期短。
blade pin大电流弹片微针模组在同一产品连接器测试前后的对比

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(测试前图片)

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(测试后图片)

同一模组在连接器上测试前和测试20次后,放在500倍显微镜下对比,连接器基本看不到扎痕。
测试过程安全放心,性能稳定,效率高。这样集优点于一身的弹片微针在测试中所发挥出的作用,比pogopin探针模组强太多了!凯智通研发的blade pin大电流弹片微针模组不仅解决了过去pogo pin探针模组在测试中的难题,还获得了国家专利!5G时代智能手机屏幕测试,有blade pin大电流弹片微针模组保驾护航,对企业来说,绝对是既降低了生产成本,又提高了生产效率。

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