测试手机LCD屏、OLED屏，大电流BTB/FPC弹片微针模组为你保驾护航

随着互联网的全面普及与移动终端的迅速发展，手机性能在不断提高，其屏幕也在不断优化升级。目前，手机的屏幕类型主要分两种，LCD屏和OLED屏。然而在屏幕出厂前必然要进行一道重要的工序：屏幕测试。最近深圳凯智通自主研发了一款针对手机LCD/OLED屏测试的新模组：大电流BTB/FPC弹片微针模组。

LCD屏与OLED屏最大的区别就在于自发光，打个比方来说，同样是显示黑色界面，OLED屏可以完全不发光，而LCD屏在显示黑色界面时仍然需要背光灯的辅助，并且由于背光灯的存在，LCD屏幕普遍偏厚。另外，OLED屏的色彩显示较为鲜艳明亮，画面看上去更精致漂亮，而LCD屏色彩显示较为普通。但是OLED屏也有着巨大的缺陷，第一个就是烧屏现象，OLED屏如果长时间停留在一个界面就会产生残影，这就导致OLED屏的使用寿命偏短。第二个就是伤眼，OLED屏有频闪现象，如果在低亮度的情况下（尤其是夜晚无明亮灯源的情况），屏幕就会出现频闪现象，不利于保护眼睛。

（图片来源自网络，如侵删）

不管怎样，手机屏幕的显示功能仍然是非常重要的，每个人的喜好不同，LCD屏和OLED屏根据自己的使用习惯来选择就最好不过了。当然，这还说明了屏幕的质量是非常重要的，出厂前的测试直接影响了用户的实际体验。然而屏幕测试其实是一个非常琐碎且量大的工作。

在手机屏幕测试中频频遇到困难？测试效率低下？短短五分钟，告诉你行业大秘密，从此向“测试难题”say goodbye！

Pogo pin（普通供应商）  VS  Blade pin（凯智通专利）

在21世纪飞速发展的数码时代下，传统的pogo探针模组已然无法适应现如今的测试要求。

Why？请看以下详情

1.    受pitch值限制大，pogo探针模组可接受的最小间距仅为0.3mm，表现能力差

（由深圳凯智通自主研发的blade pin弹片微针模组，可接受0.1~0.4mm的间距，包容能力强，表现优秀）

2.    探针过流能力差，pogo探针过流能力仅为1A，根本无法承受大电流的通过

（由深圳凯智通自主研发的blade pin弹片微针模组，可承受高达30A电流，包容0-30A之间的电流）

3.    探针使用寿命短，pogo探针的平均寿命在5W次，无法承受高频率的测试

（由深圳凯智通自主研发的blade pin弹片微针模组，平均寿命在20W次，使用寿命是pogo探针的四倍，完美符合高频率测试的要求，并降低了测试成本。）

看完以上三点，你以为blade pin没有其他亮点了吗？

NO,NO,NO!

针对母座BTB connector，pogo弹片几乎无法实现，稳定性极差，在BTB母座上，许多企业会采用轻触方案来临时应对。然而blade pin却可以完美应对母座BTB connector，稳定性极高。

由此可见，blade pin弹片微针模组相较于pogo pin探针模组具有明显的优势，选择blade pin，就等于选择了安全、高效、环保与低成本。

屏幕测试所使用的模组是非常重要的，模组的优劣直接关系到了获取测试结果的效率。而在LCD、OLED屏幕的检测中，由深圳凯智通自主研发的大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin展现了绝对的优势，这款新模组在pitch值、过流能力、使用寿命等领域均有着出色的表现。使用blade pin弹片微针模组既省时省力，还降低了企业的测试成本，可谓是一举多得。