测试探针效率低下、成本高,这款弹片微针模组为你解决难题

2019-11-15 10:00:15 凯智通

近日,IDC(国际数据公司)发布第三季中国平板电脑季度追踪报告,显示今年第三季中国平板电脑出货量共约567万台,连续第六个季度实现同比增长。由于K-12教育的电子课堂、书包等项目已渗透至一定程度,普教采购需求下滑。因此,在商用端失去了教育企业需求后,平板商用市场增长仍将承压。而相反,学生个人购买平板电脑用于学习用途等因素将继续带动消费平板出货的增长。对于普通学生而言,性能与品质是最看重的两点,而出厂前对平板电脑各个部件进行的质检与测试环节尤为重要,尤其是LCD/OLED屏幕、3C锂电池、平板上的摄像头等重要部件。最近凯智通创新研发了一款大电流弹片微针模组,有效解决测试探针不稳定的问题。 

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以往的pogo pin探针模组测试效率难以让人满意,在测试过程中常常出现各种问题,影响了原有的测试计划,拖慢产品的生产进度。

为什么说pogo pin探针模组测试效率低下,原因有以下几点。

1.Pogo pin由针头、针管、针尾组成,是一个复杂的多结构体。接触点多,易产生接触不稳定、阻抗一致性低等问题

2.测试时pogo探针经常性扎歪,需要人员重新进行探针调整,浪费了大量的时间和人工成本

3.卡PIN:同样因为由多结构组合而成,这个在pogo pin身上是避免不了的问题

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针对母座BTB connector 测试探针几乎无法实现,稳定性极差,在BTB母座上很少使用pogo pin,几乎大部分采用轻触方案来临时对应,而凯智通创新研发的这款大电流弹片微针模组在针对BTB母座上有特殊的对应的方法,稳定且可靠。


测试母座时,尖头型弹片头部插入连接器内端子,使其产生一定的张开量,这样可以保证弹片接触面与BTB连接器端子两面一直保持接触状态;测试公座时,锯齿型弹片大面积充分和连接器接触点接触,保证测试稳定。

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锯齿型弹片应用于BTB公座,该头型特点为接触BTB连接器顶部弹片.测试时微针模组弹片接触BTB连接器弹片顶部多点接触,保证接触稳定性。

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尖头型弹片应用于BTB母座,测试母座时,弹片头部插入BTB连接器内弹片开口之间,对BTB连接器弹片产生一定的张开量,微针模组弹片接触面与BTB连接器弹片两面一直保持接触状态,微针模组弹片头型自清洁设计免维护保证长期稳定性


除此之外,这款弹片微针模组平均使用寿命高达20W次,是pogo pin的整整四倍(pogo pin仅为5W次),解决了pogo pin测试效率低的问题,避免频繁更换的麻烦。

Pogo pin的组装工艺复杂,制作难度与成本都极高。而这款弹片微针模组采用的一体化成型弹片结构,组装容易,批量定制精确度高,成本较低。

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平板电脑在近年来的需求越来越大,高清大屏幕与长续航吸引了一批年轻消费者,而消费者在选购时十分看重品牌的口碑与产品的质量。因此出厂前的质检与测试环节必须重视,而连接器测试模组在其中发挥着关键的作用。传统的测试探针组装工艺复杂、成本较高、效率低下,基于这种情况,凯智通创新研发了这款大电流BTB/FPC弹片微针模组,有效解决pogo pin的问题,大大提高测试效率,降低企业的测试成本。

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