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ic什么情况下容易坏
凯智通研发生产各类芯片封装测试座/老化座/烧录座/芯片封装测试座/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector定制热线:18188646150_
2022-08-06 zqa49289712
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半导体芯片怎么测试?
为什么要进行芯片测试?随着芯片复杂度越来越高, 为了确保出厂的芯片没有问题, 需要在出厂前进行测试以确保功能完整性等. 而芯片作为一个大规模生产的东西, 大规模自动化测试是唯一的解决办法, 靠人工或者说bench test是没法完成这样的任务的.芯片测试在什么环节进行?芯片测试是一个比较大的范畴, 一般是从测试的对象上分为wafer test 和final test,分别是尚未进行封装的芯片, 和
2022-07-02 zqa49289712
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IC测试座有哪些作用
IC测试座,有人称IC测试夹具,也有人称为IC测试治具或者IC测试架,主要有内存条IC测试夹具,手机IC测试治具,QFN测试座, BGA测试座等,主要用于检查在线的单个ic元器件以及各电路网络的开、短路情况,以及模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试。为什么现在大量的IC厂商会用到IC测试夹具,一般有以下三点1.料检测,采购回来的IC在使用前有时会进行品质检验,找出不良品,从而提高SMT的良品率。IC
2022-06-25 zqa49289712
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论IC测试座的测试用途
我们都知道芯片需要通过测试才能投入市场,一般来说有两种方式一种是抽样测试另一种就是生产全测。在芯片设计过程中的验证测试,芯片可靠性测试,芯片特性测试等等,这些都是抽样测试,其主要目的是为了验证芯片是否符合设计目标,比如验证测试就是从功能方面来验证是否符合设计目标。 生产全测的测试,这是需要测试所有产品,把有缺陷的产品挑出来,区分良品和不良品的测试。有一些GPU尺寸比较大,PIN脚数比较多
2022-05-27 zqa49289712
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灯火映万家,团圆共此时
灯火映万家,团圆共此时
2022-02-15 zqa49289712
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Pogo pin无法应对小pitch领域测试,凯智通弹片微针模组blade pin有办法
在智能手表测试中,BTB连接器的间距值越来越小,pogo pin探针模组在小pitch领域无法很好地应对,常常出现卡pin、断针的现象。凯智通研发的弹片微针模组blade pin既能应对小间距,还能通过大电流。
2021-12-30 凯智通微电子
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针对小间距BTB连接器的应用和解决方案—0.175弹片微针模组
虽然0.3mm/0.2mm/0.175mm/0.15mm/0.1mm等这类小间距BTB连接器的优势很明显,但要针对小间距BTB连接器测试产品的性能,其中测试模组就显得尤为重要。由凯智通KZT生产并具有专利的,针对小间距连接器测试导通的0.175小间距弹片微针模组具非常突出的几点优势
2021-11-02 深圳凯智通
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5G手机应用FPC连接器有何优势?解析FPC连接器性能和测试
FPC连接器测试,弹片微针模组在操作、环境、保养都很好的情况下,能达到50w次,应对高频率测试也不在话下,可长期保持稳定的连接,还能提高测试效率,是FPC连接器测试的有力保障。
2021-07-17 深圳凯智通