Pogo pin无法应对小pitch领域测试,凯智通弹片微针模组blade pin有办法

2021-12-30 15:14:19 凯智通微电子

智能手表测试中,BTB连接器的间距值越来越小,pogo pin探针模组在小pitch领域无法很好地应对,常常出现卡pin、断针的现象。凯智通研发的弹片微针模组blade pin既能应对小间距,还能通过大电流。
1.小间距
blade pin弹片微针模组在小间距领域能够应对的pitch值最小为0.15mm,通常在0.15mm-0.4mm之间,性能稳定,表现优越。
Pogo pin能够应对的间距最小只能达到0.3mm,范围只在0.3mm-0.4mm之间,在小pitch领域中寿命和稳定性都较差,几乎无法使用。
2.电流
blade pin电流传输于同一材料体内,额定电流最高可达50A,过流能力强,电阻恒定。
Pogo pin电流传输先从针头传导到针管,再到针尾,电流在传输过程中会在不同部位衰减,电阻可变,并且容易受到不同触点面积的影响,额定电流仅为1A。
3.高寿命
Blade pin的测试寿命在20W次以上,测试效率高,生产难度低,交期短。
Pogo pin的测试寿命仅为5W次左右,且加工难度高,交期短,品质不稳定。
4.结构
Blade pin为一体成型的弹片设计,采用镍合金/铍铜材料,通过激光设备,运用特殊工艺制作,接触形状和整体高度很容易按照客户要求定制。

大电流BTB微针模组,blade block微针模组,凯智通


Pogo pin探针由针头、针管、针尾构成,制作、涂装、装配工艺复杂,表面覆盖的镀金厚度很难控制。

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5.BTB测试
Blade pin在母座的测试良率达99.5%!运用不同头型特点分别对应公母座测试,锯齿型用于BTB公座,尖头型用于BTB母座,性能稳定可靠。


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(锯齿型用于BTB公座)


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(尖头型用于BTB母座)


Pogo pin探针在母座的测试良率不到80%,极易断针,稳定性极差。针对母座BTB connector测试pogo几乎无法实现,大部分都是采用轻触方案来临时应对。
6.产品测试
Blade pin:在同一模组上,产品测试前和测试20次后,放在在500倍显微镜下对比,连接器基本看不到扎痕(如图)

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测试前


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测试后


Pogo pin:在测试时则很容易出现扎痕,且还会有卡pin、断针的现象,造成测试不稳定。


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