开尔文测试座的特点

开尔文测试座用于开尔文四线检测（四端子检测、四线检测、4点探针法），用于芯片的快速验证、测试、老化，工作温度为-40至140度，适用于间距0.4mm-1.27mm的产品，其寿命30万次以上, 适用于SOP封装的模拟电路测试，适用SOP、PSOP、QSOP、SSOP、TSSOP等封装检测等。

开尔文测试座用于SOP封装的模拟电路测试，电流测试值更准确。SOP封装的每个针脚均为２点接触，可以根据客户的要求设计转接模组，根据客户的需求，也可以定制PCB板配套出售。其他封装，如QFN或DFN也可以定制开尔文测试座。

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深圳/苏州凯智通微电子技术有限公司成立于2000年，是一家集研发、生产、销售于体的技术密集型国高企业，公司专业研发各类应用于芯片/晶圆功能验证的测试座/老化座/存储芯片自动化测试/老化设备以及FPC/BTB检测的微针模组，立志成为国内芯片和连接器测试细分领域的第一品牌!!