选用连接器测试模组的最主要几个重点你知道吗？pogo pin缺点频频暴露

随着数码科技的飞速发展，各种智能电子产品日新月异，连接器测试模组的需求越来越大，市面上大多数商家仍在采用pogo pin，但是pogo pin的缺点越来越突出，无法应对多样化的测试要求。与此同时，深圳凯智通的新品大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin的表现则让人出乎意料，连连赞叹。

为什么？主要基于以下几点原因

1.测试不稳定，pogo pin本身是多配件结构，接触点多，易产生接触不稳定、阻抗一致性低等问题

2.测试时探针经常性扎歪，测试人员需要重新进行探针调整，浪费了大量的时间和人工成本;

3.卡PIN：同样因为由多结构组合而成，这个在pogo pin身上是避免不了的问题;

4.极易断针：随着pitch的缩小，pogo的针径也越来越小，使得探针的断针风险逐渐增加;

5.使用寿命很短：探针的平均使用寿命均在50000次以下，并容易磨损，使用次数到一定的寿命后易导致接触不良、误测等现象;

以上情况的出现，导致了企业测试成本增加、测试效率低下、良品率低等问题

试问谁不想能够又快又好地完成测试任务？那么选择一款好的连接器测试模组是十分必要的。

基于pogo pin在测试中遇到的种种问题，凯智通推出了一款优质新品：大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin。

针对BTB/FPC连接器的3C锂电池、屏幕、摄像头等相关部件，blade pin展现了绝对的优势。

首先，它采用了弹片式结构，一体成型、后期加硬镀金处理，接触形状和整体高度可为客户定制。弹片的一体化结构减少了接触点，避免产生接触不稳定、阻抗一致性低等问题。

（亮点：一体化结构减少接触点，因此稳定性高）

其次，blade pin的最小间距可达0.1mm，pitch值范围在0.1mm-0.4mm（区别：pogo pin由于探针的限制，pitch范围仅在0.3-0.4mm，无法在小pitch值领域发挥效果）

接着，blade pin是大电流模组，过流能力强悍，最高可承受30A的额定电流，包容1-30A之间的电流（亮点：过流能力强，目前许多测试环境对电流的要求较高，而pogo pin的过流能力低，仅为1A）

然后，blade pin的平均使用寿命高达20W次，能够应对高频率的测试要求（区别：pogo pin探针的平均使用寿命较低，仅为5W次，为blade pin的四分之一）

最后，blade pin测试中不易对连接器造成扎痕或损坏（区别：pogo pin的探针结构极易对连接器造成扎痕，降低连接器的使用寿命，增加成本）

以下为blade pin实物图片

连接器测试模组小知识：连接器测试模组在工作时的摩擦和工作环境中各种腐蚀性物质的腐蚀是让连接器测试模组寿命大减的重要因素。

与pogo pin相比，深圳凯智通研发的blade pin有着巨大的优势，在稳定性、功能性、实用性等方面的表现十分优秀。使用大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin，不仅能够降低测试成本，还能提高测试效率，加快测试进度。

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