解决测试探针局限性大的问题，这款弹片微针模组支持测试的范围更大

随着时间的推移，智能手机发展得越来越迅猛，安卓系统的不断优化升级大大提高了用户体验，并增加了许多新功能。这也使得一台智能手机里集成了许多精密的部件，如屏幕、摄像头、锂电池等。而要保证这些部件的质量合格，在出厂前必须要对其进行重要的质检环节，也就是对这些部件上的连接器进行测试。那么其中就需要用到连接器测试模组，但现在的测试探针并不能够完全满足测试的要求，所以凯智通创新研发了一款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin。

对3C锂电池、手机屏幕与摄像头进行测试时并不建议采用测试探针，原因在于测试探针存在着许多问题，能测试的范围较小，适应性不强。

产品的部件是多样化的，要求的标准也不一样。而测试探针pogo pin的过流能力有限，一般仅在1A左右。这就大大局限了测试的范围，支持测试的部件较少。市面上有不少商家制作了大电流的pogo pin。但这种做法通常是增大pogo pin的尺寸来达到大电流的目的，因此pogo pin的直径变大，因大间距的原因无法与小间距的连接器相适配，无法完成对相关部件的测试。一般来说，这类大电流的pogo pin普遍大于1mm，远远超过了测试范围。

另外，测试探针的加工难度高，交期长，成本高。

加工小孔使用小刀具进给量小，加工时间长。刀具小磨损严重，加工件良率低，品质非常不稳定。部份尺寸难以测量。

而凯智通研发的这款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin则没有这种顾虑。

首先，blade pin的制作上没有采用探针结构，基于探针结构的局限性，采用了全新的一体化成型的弹片结构，导电性能远远超越测试探针！过流能力最高可达30A，并且可定制小pitch的设计，最小可达0.15mm。

这样做的好处就是解决了测试探针局限性大的问题，blade pin支持的测试范围更广，能够测试更多不同种类的3C锂电池、手机屏幕与摄像头，针对BTB/FPC/FFC上的连接器测试，blade pin提供了一个更出色的解决方案。

另外，不同于测试探针，这款blade pin的加工难度系数较小，交期短。一体化成型的弹片制作工程简单，不用经过多道工序组装，大大节约了加工时间，因而成本也较低。

智能手机的产量越来越高，出厂前要对手机屏幕、摄像头、锂电池测试的工作量越来越大，不同产品的要求较为复杂，显然测试探针支持的范围较小，整体性能无法满足预期要求。而凯智通创新研发的这款弹片微针模组blade pin支持测试的范围更大，能够定制企业更高要求的测试模组。