可应对更小pitch领域的设计，这款弹片微针模组比测试探针适应性更强

质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是数码产品的生命，好的品质，长久的耐力往往就是一部手机/平板电脑/笔记本的竞争力所在。为了保障产品的质量与用户的使用体验，这类产品在出厂前都会进行相关的测试，而测试时则需要运用到连接器测试模组，连接器测试模组的性能与质量显得尤为关键。最近深圳凯智通自主研发了一款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin，能够有效解决测试难题，在小pitch领域里，blade pin的适用性远超测试探针。

随着pitch值的缩小，测试探针pogo pin的针径越来越小，小针径的pogo pin在测试过程中极易断针，使用寿命大大减小，并且因为尺寸的原因阻抗变大，可过电流变小，接触不稳定。

另外，部分pogo pin厂家难以批量化生产，生产技术水平参差不齐，厂家的品质性能不稳定，量产化品质不过关。另外缺乏标准的管理机制，不按照规定的工艺方法严格进行管理，pogo pin制作工艺极其精细复杂，从车床加工，电镀，组装，每道工序都可能带来严重的隐患。

如何解决小pitch值领域里的测试难题？凯智通有新方法，最新研发的这款大电流弹片微针模组blade pin能够良好应对小pitch值领域的测试。Blade pin采用了全新的制作工艺，一体化成型弹片结构，加工难度系数小，管理体制严格。与探针结构不同，blade pin的弹片较为扁平，可做更小pitch值的设计，最小可达0.15mm，范围在0.15mm-0.4mm之间。

目前来看，电子零件的精细化已然成为一种趋势，一台智能手机里集成了许多精细的电子部件。不同部件的pitch值要求越来越多样化，而pogo pin所能适应的pitch值范围较小，仅为0.3mm-0.4mm。在针对LCD/OLED屏幕、3C锂电池、手机摄像头等关键部件，blade pin的适用性更强，pitch值可做更小，可用范围更大，能够降低企业的测试成本。

这款弹片微针模组blade pin目前已获得国家专利，安全高效值得信赖。质量（Quality）和可靠性（Reliability）是促使消费者选择购买的关键因素，因此出厂前的质检环节必须重视，而连接器测试模组的选择也相当关键。相比测试探针，这款弹片微针模组blade pin在小pitch值领域里表现出色，可制作的pitch值范围广，能够应对更多样化的测试要求，是测试人员的最佳选择。