pogo pin探针结构存在较多问题，这款弹片微针模组使用一体化成型弹片结构

如今的数码行业竞争越来越激烈，国产手机品牌近年来崛起的飞快，推出了一系列颇受大众欢迎的新品手机，并在国际上得到了广泛认可。消费者在选购时会考虑两个很重要的问题：性能与品质。手机要具备良好的性能，也需要上乘的品质。这几年来，手机的内部结构发生了很大变化，精密度与严密性大大提高。这说明了在出厂前对手机各个部件进行测试的难度大大提高了，而以往的传统测试探针在结构上存在着许多问题，性能极其不稳定。最近凯智通创新研发了一款大电流BTB/FPC弹片微针模组，良好应对手机上LCD/OLED屏幕、锂电池、摄像头的测试。

从结构上看测试探针存在着许多问题，pogo pin是一个复杂多结构体，由针管、针头、针尾构成，内置弹簧结构。组装难度较大，严密性不强，很容易因为某个部位出问题而影响整体。因此测试时pogo pin容易出现断针现象。探针的使用寿命一般在5W次以下，并容易磨损，使用次数到一定的寿命后易导致接触不良、误测等现象。

另外。受探针结构的影响，测试时阻抗较大，导电性能较差。测试时电流从针头传导到针管，然后再到底部的针尾,电阻通常是可变的,电流在传导过程中也会在不同部位衰减，并且容易受到不同触点面积的影响，额定电流仅为1A。

为了解决探针结构出现的问题，更好应对LCD/OLED屏幕、3C锂电池、手机摄像头等部件的测试，凯智通推出了全新的大电流弹片微针模组。

这款弹片微针模组采用了全新的一体化成型的弹片结构，相比探针结构，弹片的结构严密一致性强。测试时电流传导于同一材料内，电阻恒定，几乎没有电流衰减，导电性能优越，最高可达30A。弹片微针模组通过激光设备采用特殊工艺制作，接触形状和整体高度很容易按照客户要求制作。

另外，弹片微针模组的加工难度系数小，一体化成型的弹片容易批量定制，规格尺寸误差小，而探针的批量定制容易出现参差不齐、规格差异明显的现象。

手机的品质是非常重要的，因质量问题而对品牌造成恶劣影响的例子比比皆是，比如三星就曾因电池问题而引发了一系列事故，对企业造成了极坏的影响，销量大大下滑。因此出厂前的质检与测试环节尤为重要，而以往的测试探针pogo pin结构上存在着许多问题，并不能良好应对测试问题。最近凯智通创新研发了一款大电流BTB/FPC弹片微针模组，使用了全新的一体化成型弹片结构，有效解决LCD/OLED屏幕、3C锂电池、手机摄像头等重要部件的测试问题。