5G手机屏幕测试,blade pin大电流弹片微针模组显优势

2019-11-26 09:40:35 凯智通

5G高速网络时代下,随着全球智能化的发展趋势,各个领域的产品已逐步泛智能化,尤其是早已渗透了我们生活方方面面的智能手机。一款新的智能手机上市时,它的款式、功能、屏幕的设计都是人们所关注的点,也是卖点所在。智能手机屏幕的流畅度、清晰度、分辨率甚至是屏幕的造型都是非常重要的,会直接影响人们的使用体验。因此手机屏幕测试至关重要。


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市场上企业或厂商所使用的测试模组为Pogo pin(探针模组),由针头、针管、针尾组成。这组探针制作装备工艺复杂,生产成本高,表面覆盖的镀金厚度很难控制。由于测试时接触点少,易产生接触不稳定、阻抗一致性低等问题。探针接触区域的面积小,测试母座时只能接触连接器端子顶点最高位置,易磨损不说,使用到一定频率后容易出现接触不良的现象,导致误测。这对于产品和厂商来说都是极为不便利的。
有没有什么方法能解决这个难题呢?深圳凯智通微电子技术有限公司就这个问题研发出了一种新型的弹片模组——Blade pin(大电流弹片微针模组)
这种新型弹片微针模组的优势在于:
1.弹片一体成型,接触形状和整体高度容易根据客户的要求去制作,轻薄可定制;
2.弹片是一体化结构,减少了接触点,避免产生接触性不稳定、阻抗一致性低等问题;
3.测试母座时,弹片头部插入连接器内端子,使其产生一定的张开量,保证弹片接触面与BTB连接器端子两面保持一致解除的状态;
4.测试公座时,锯齿形弹片大面积充分和连接器接触点接触,保证测试的稳定。


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总的来说,这种新型的Blade pin大电流弹片微针模组具备精度高、阻抗小、过流能力强的特点,拥有一体式设计、稳定性能、短交期、高寿命的优势。经过试验,凯智通的弹片微针模组针对母座的测试良率高达99.5%(在有些产品上测试良率可达100%)!大大地提升了模组测试时的使用率,为企业减少了磨损率和高成本的问题。
在智能手机屏幕的测试中,传统的探针模组Pogo pin已不再具备优势,新的Blade pin大电流弹片微针模组已逐步将之取代。毫无疑问,5G网络生态下,凯智通的这一研发已经走在了产业前沿,让商家在智能手机屏幕测试中突破以往的局限,从而达到更高的技术层面和更为精准的数据。使消费者拿到手中的产品实用、适用、好用、耐用。
针对手机屏幕测试,这就是凯智通研发出这组大电流弹片微针模组贡献出的价值,和其所具备的意义。

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