针对母座connector测试：pogopin的劣势，弹片微针模组的解决方案
针对于BTB/FPC母座connector测试，目前绝大部分的企业、厂商采用轻触方案来临时应对；使用pogo pin的厂商测试母座时，只能接触连接器端子顶点最高位置，接触区域面积小，接触方式为点对点，相对弹片接触面小，易磨损及使用次数到一定的寿命后易接触不良，导致误测等现象。
pogopin是由弹簧、针管、针轴三个基本部件预压之后形成的弹簧式探针；它本身由几个部件制作、装配、涂装而成，工艺程序复杂，但使用寿命依然不高；因为pogopin本身存在的一些问题，在实际操作针对BTB母座connector测试时，我们了解到一些厂商的实际情况：
测试不稳定，pogopin本身是多配件结构，接触点多，易产生接触不稳定、阻抗一致性低等问题；
测试时探针经常性扎歪，然后需要人员重新进行探针调整，浪费了大量的时间和人工成本；
卡PIN：同样因为由多结构组合而成，这个在pogopin身上是避免不了的问题；
极易断针：随着pitch的缩小，pogo的针径也越来越小，使得探针的断针风险逐渐增加；
使用寿命很短：探针的使用寿命均在30000次以下，并容易磨损，使用次数到一定的寿命后易导致接触不良、误测等现象；
以上情况相对出现率较高，针对以上的情况，自然导致企业成本的增加，测试稳定性差，良品率低等问题。
针对以上使用pogo测试BTB母座connector，我们凯智通微电子自主创新的大电流弹片微针模组（blade block）就很好的解决了以上的问题，下面简单介绍几个方面：
弹片微针模组有一体成型，后期加硬镀金处理，接触形状（可定制化）很容易按照客户要求制作；弹片为一体化结构，减少了接触点，避免产生接触不稳定、阻抗一致性低等问题；
在测试母座时，弹片头部插入连接器内端子，使其产生一定的张开量，这样可以保证弹片接触面与BTB连接器端子两面一直保持接触状态；测试公座时，锯齿型弹片大面积充分和连接器接触点接触,保证测试稳定；
电流传导于同一材料体内，电阻恒定，几乎没有电流衰减，具有更好的连接功能，额定电流为3A；
由于一体成型，完全不会出现卡pin现象，并且使用寿命能达到30万次以上；
测试母座时，定制的斜口性弹片的头部插入BTB连接器内弹片开口之间，对BTB连接器弹片产生一定的张开量，微针模组弹片接触面与BTB连接器弹片两面一直保持接触状态，微针模组弹片头型自清洁设计免维护保证长期稳定性；
一体式设计，精准度高，完全不会出现扎歪的问题；
大电流BTB弹片微针模组的测试良率能达到99.5%；
能更好的应对pitch≤0.2mm的领域；
使用弹片微针模组（blade block）在同一模组，测试前和测试20次后，连接器上基本看不到任何扎痕；
针对市场上，企业使用pogopin一系列的问题，我们自主创新的大电流弹片微针模组（blade block）的解决方案能更好的应对，帮助企业节省成本。
相较于目前市场上的痛点，KZT凯智通微电子自主研发的大电流弹片微针模组（blade block），一体成型的弹片杜绝了卡pin、连接稳定性差、断针，接触形状可定制化避免了产生接触不稳定、阻抗一致性低，能应对pitch≤0.2mm、测试效率高、稳定性高、能兼容小pitch BTB公母座稳定且可靠、能承受最大50A大电流、使用寿命更长、快速出样、订货周期短等优点。
基于以上的优势，在母座板对板连接器（母座BTB connector）测试中，大电流弹片微针模组具有非常优秀的解决方案，我们KZT凯智通微电子欢迎各大企业、厂商前来咨询、了解、合作。