应对智能穿戴设备显示屏、电池测试的新方案：大电流BTB/FPC弹片微针模组

近几年来，随着数码科技与信息技术的发展，智能穿戴设备如智能手环、手表等如雨后春笋一样纷纷涌现，这类设备往往具有丰富的功能，如运动计步、心率提醒、睡眠监测、信息推送、通话上网，甚至可以安装各类app在设备上。这类设备的发展是让人非常惊喜的，与此同时，这类智能穿戴设备的显示屏与电池的相关测试是非常重要的。最近凯智通自主研发了一款优质测试模组：大电流BTB/FPC弹片微针模组。

智能穿戴设备即直接穿在身上，或是整合到用户的衣服或配件的一种便携式设备。可穿戴设备不仅仅是一种硬件设备，更是通过软件支持以及数据交互、云端交互来实现强大的功能，可穿戴设备的应用领域越来越广泛，也受到了华为、小米、苹果等众多厂商的重视。

（图片来源自网络，如侵删）

就中国目前的智能穿戴设备市场，以智能手表、智能手环等产品为主。而这些产品因为和智能手机存在密切的关系，所以，就小米、华为、苹果等智能手机厂商，自然也成为可穿戴设备市场的重要参与者。

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智能穿戴设备的市场发展潜力巨大，2017年第二季度中国智能手表市场出货量为173万台，除儿童市场外，同比增长42．8％，环比增长21．5％。由此可见，虽尚未迎来爆发式增长，但随着产品迭代和市场接受度的不断成熟和提高，中国智能手表市场依然在稳步向前，无论是苹果、华为、Fitbit等智能设备厂商，还是华米，出门问问等人工智能厂商，均在智能手表领域进行技术和设计方面的不断探索。

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未来随着外观上的不断完善，功能上逐渐加强运动特性，智能手表赢得了更多热爱时尚、科技以及运动消费者的青睐。另外，智能手表的价格普遍下调，也促使更多消费者产生尝试的意愿。

随着智能穿戴设备的发展，其功能性与实用性在不断地增强，给人们的生活带来了更多的方便与乐趣。随之而来的还有一个不可忽视的问题，智能穿戴设备类的显示屏与电池的相关测试是非常重要的，这直接关系到了产品的质量与消费者的使用体验。因此测试模组的选择是一件非常重要的事情，而传统的pogo pin探针模组显然已经无法满足更多样化的测试要求了，它仅可承受pitch值0.3mm-0.4mm，范围较小，适应性弱。pogo pin的过流能力差，仅为1A，而平均使用寿命仅为5W次，无法满足高频率的测试要求。

目前深圳凯智通已经自主研发了一款优质测试模组：大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin，这款测试模组相比pogo pin具有非常巨大的优势。

第一，  blade pin采用了弹片式结构，过流能力强，可承受最高30A的额定电流，包容1-30A之间的电流

第二，   blade pin的pitch值范围在0.1mm-0.4mm,可应对更多样化的测试要求

第三，   blade pin的平均使用寿命高达20W次，是pogo pin的四倍！

另外，这款优质测试模组blade pin已获得国家专利，blade pin的诞生为相关的测试事业倾注了热血动力，提高了测试效率并降低了测试成本。

智能穿戴设备的发展是非常迅速的，而凯智通也紧随潮流，自主创新，研发的这款大电流BTB/FPC弹片微针模组能够适应更多样化的测试环境，为相关的测试事业作出了巨大的贡献。