应对手机屏幕、摄像头、电池测试的优质新模组：大电流BTB/FPC弹片微针模组

21世纪是数码科技发展尤为迅速的一个世纪，在人们还在感慨直板手机可以收发短信、上网聊天的时候，智能手机的空降给了人们一个巨大的惊喜，短短几年智能手机的覆盖率便已超过传统手机。手机的屏幕、摄像头、电池作为硬件的三个关键部分，出厂前的手机屏幕测试是非常重要的。与此同时，凯智通紧跟时代，基于目前智能手机在屏幕、摄像头、电池等方面的测试需求，推出了优质新模组：大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin。

手机在短短的十多年发生了巨大的改变，从塞班系统到安卓系统，这是一个革命性的转变。手机功能越来越丰富，如今人们只需携带手机即可出门游玩，轻轻在手机上一点，即可完成支付，再也无需携带纸币。手机扩展的丰富功能，使得手机地位超过了电脑，成为了人们首要必备的数码产品，以前只能通过电脑完成的，现在亦可通过手机来完成，诸如交水电费、网费，远程交易，视频通讯，网络购物，打开与编辑办公文档等。

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与此同时，屏幕的显示功能对于手机来说是十分重要的，屏幕的优劣直接影响到了用户的实际体验，一般来说，如果屏幕出现了显示问题，将会影响用户的视觉观感，无法完成良好的功能操作，在阅读文字与图片、观看视频、玩游戏等方面影响颇为严重。

手机电池的优劣则影响到了用户使用手机时的安全与稳定性。

摄像头作为手机拍照功能的核心部件，如果出现了问题，那么肯定会影响用户的体验，拍照、扫二维码等都需要摄像头的参与，如果出现了不稳定甚至损坏的情况，很有可能会影响手机的口碑。

手机的屏幕、摄像头、电池测试主要是采用相关的模组来进行的，以往测试人员采用的是pogo pin探针模组，但这款模组的适用性范围较窄，可承受pitch值范围仅在0.3mm—0.4mm，过流能力较差，仅为0-1A，而pogo pin探针模组的平均使用寿命仅为5W次，无法良好应对高频率的测试，更换次数较为频繁。

深圳凯智通在测试模组上颇有研究，自主创新研发了一款新型模组：大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin，并且获得了国家专利。

这款新模组具有不可比拟的优势，与传统探针模组相比，这款blade pin采用了弹片式结构，最小间距可达0.1mm，可承受的pitch值范围在0.1mm-0.4mm，能够应对更多样化的测试要求。并且blade pin的过流能力较强，最高可达30A，包容1-30A之间的电流，能够适应多样化的测试环境，兼容性强。另外，blade pin的平均使用寿命高达20W次，是pogo pin的四倍！（pogo pin的平均使用寿命仅为5W次）

优点1：KZT 弹片通过激光设备采用特殊工艺制作，接触形状和整体高度很容易按照客户要求制作。

优点2：电流传导于同一材料体内，电阻恒定，几乎没有电流衰减，具有更好的连接功能，额定电流为1-30A。

测试人员日常需要进行测试的工作量是非常高的，选择使用寿命更高的模组可以避免经常更换模组的麻烦，提高测试效率，减少测试成本。而blade pin的平均使用寿命高达20W次，充分满足高频率测试的要求。

这就好比手机的电池续航一样，一个电池续航能力5小时，而另外一个电池续航能力20小时，相差四倍！如果我是聪明的商家，肯定选择实惠耐用的产品。

测试模组的优劣直接影响了测试过程与结果，选择一款优质测试模组，不仅能够降低测试成本，还能大大提高测试效率，缩短测试时间。毕竟时间就是金钱，对于分秒必争的数码行业来说，测试效率是非常重要的。

选择凯智通，选择大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin，就是选择了安全、高效、低成本的测试方式，而这款新模组为相关的测试事业倾注了充足的热血动力。