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优秀的过大电流特性,这款弹片微针模组比pogo pin更出色
毋庸置疑,随着时代潮流的发展,相关的电子部件越来越精密,要想顺利完成连接器测试,测试模组是一个非常关键的要素。而以往的传统测试探针性能已无法跟上连接器的需求,为此凯智通创新研发了一款大电流弹片微针模组blade pin,能有效解决连接器测试难题。
2019-11-06 凯智通
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解决微小型BTB连接器测试难题,这款弹片微针模组实现“小pitch+大电流”双重特性
随着电子产品的精细化,许多部件的连接器在测试时通过的电流偏大。而一般的测试模组并不能满足过电流的要求,而基于这种情况,凯智通创新研发了一款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin,这款blade pin有效解决了当前连接器测试的一些难题。
2019-11-05 凯智通
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你是否关注产品性能?不可错过的大电流弹片微针模组,适配BTB公母座测试
2019年,3C数码行业涌现了许多科技新品,产品性能日益成为消费者在选购时的一个重要考量因素。华为、小米、魅族等知名品牌发布了一系列的新品手机,配备了当下主流的处理器、高端的索尼摄像头与精美的全面屏。这似乎体现了当代人们的物质追求越来越高,对于产品的要求越来越苛刻。与此同时,手机上的连接器也经历了革命性的转变。
2019-11-04 凯智通
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比测试探针性能更出色,这款大电流弹片微针模组值得一看
目前的测试模组技术迟迟没有得到改革创新,沿用的仍然是旧材料制作方式。然而在最近,凯智通创新研发了一款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin,技术创新,领先于同行,具有出色的性能表现。
2019-11-04 凯智通
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兼容BTB公母座测试,大电流弹片微针模组越看越强悍,值得一试!
智能手机的品质越来越重要,人们购买手机不仅考虑价格问题,更多会关注性能。毕竟性能出色的手机能带给用户更优质的体验,与此相关密切的就是连接器测试模组了,测试模组的优劣会直接影响最终成品的质量。而现在凯智通创新研发了一款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin,这款模组越看越强悍,值得一试!
2019-11-02 凯智通
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pogo pin测试效率低下?大电流弹片微针模组为你解决难题
数码科技的进步在近年来尤为明显,智能手机革新换代可谓是日新月异,无时无刻都在变化着。随之而来就出现了一个十分重要的问题:生产效率跟不上市场需求。而这里面存在一个非常关键的环节,对智能手机相关部件的连接器进行测试,这就需要用到测试模组。
2019-11-01 凯智通
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突破pogo pin极限,大电流弹片微针模组有何惊人之处?
随着电子产品的精细化,测试条件越来越复杂多样化,对于连接器测试模组的要求越来越高,以往的商家/厂家习惯使用pogo pin作为相关的连接器测试模组,但是这款pogo pin因探针结构而在性能上有所局限。与此同时,凯智通创新研发的blade pin则很好地解决了这个问题,那么这两款模组在结构上有何不同?
2019-10-31 凯智通
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解决高频率测试难题:大电流弹片微针模组平均使用寿命高达20W次
手机的拍照功能似乎越来越重要,成为日常出行重要的记录工具。与此同时,相关的测试模组也显得异常重要,毕竟这关乎了手机摄像头最终的质量。而凯智通创新研发了一款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin,提供了一个全新的方案。
2019-10-30 凯智通